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R&S®ZVA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀


R&S®ZVA 系列產(chǎn)品屬于高端矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,可支持 4 個信號源,可以精準(zhǔn)地測量高達(dá) 110 GHz 的信號。

需要對高性能、多功能型有源或無源組件和模塊進(jìn)行要求極高的測量時,該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)

品的頻率范圍可擴(kuò)展至 500 GHz。
 



主要特點


  4 個內(nèi)部信號源,頻率高達(dá) 67 GHz,可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量

 具有 4 個相位相干信號發(fā)生器功能(頻率可高達(dá) 67 GHz

 中頻帶寬可高達(dá) 30 MHz,可以實現(xiàn)放大器和混頻器的脈沖測量功能
可以對帶或不帶本振接入的混頻器的變頻損耗進(jìn)行相位和群延時測量

 可以對放大器和混頻器進(jìn)行諧波、壓縮、互調(diào)和 Hot S22測量

 實現(xiàn)了無噪聲源噪聲系數(shù)定義的新方法

 實現(xiàn)了脈內(nèi)掃頻測量、脈沖平均掃頻測量和脈沖包絡(luò)測量

 2個內(nèi)部脈沖發(fā)生器

通過 R&S®ZVAX24,實現(xiàn)了內(nèi)部脈沖調(diào)制器和組合器

嵌入/去嵌入功能通過虛擬網(wǎng)絡(luò)實現(xiàn)阻抗匹配

 支持真差分測量,可以表現(xiàn)出平衡設(shè)備的非線性效應(yīng)

多功能校準(zhǔn)技術(shù):TOSMTRL/LRLTOMTRMTNAUOSM AutoCal







   


頻率可高達(dá) 67 GHz,并且含兩路內(nèi)部源的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,可以快速地對放大器和混頻器進(jìn)行測量


 線性和非線性放大器和混頻器測量

• 對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進(jìn)行測量
 
對帶內(nèi)置本振的群延時和相對相位進(jìn)行測量
 
對混頻器的變頻損耗和互調(diào)進(jìn)行測量
 
對放大器進(jìn)行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進(jìn)行測量


 脈沖測量
 
頻帶寬高達(dá) 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,用于對工作頻率高達(dá) 67 GHz的放大器和混頻器進(jìn)行脈沖測量(詳細(xì)內(nèi)

  容請參見應(yīng)用選件
• 對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進(jìn)行分辨率高達(dá) 12.5 ns 的脈沖包絡(luò)測量
 
頻率和功率掃描式的脈內(nèi)測量


 工作頻率高達(dá) 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
 
采用真差分模擬,可以快速、簡便地測試平衡待測設(shè)備
 
輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關(guān)系支持用戶自定義


 校準(zhǔn)
 
多功能校準(zhǔn)技術(shù):TOSMTRL/LRLTOMTRMTNA UOSM 
 
方便、快捷的矢量混頻器校準(zhǔn)功能和帶有未知通路校準(zhǔn) UOSM適配器去除功能



一、優(yōu)化的測試和配置時間,提高了測試速度


大中頻帶寬和寬動態(tài)范圍,使測量快并精確

R&S®ZVA 的測量速度的將高達(dá) 1 MHz的中頻帶寬(可選 5/10 MHz)和高速合成器結(jié)合在一起,縮短了測量時間,從而提高了手動調(diào)整和自動化生產(chǎn)過程的效率。 CW 模式下,每個測試點的測量時間不到 3.5μs;頻率掃描模式下200 多個測試點不到 5ms 即可完成。
由于該分析儀的動態(tài)范圍寬、相位噪聲低,因而這種速度優(yōu)勢絲毫不會對測量準(zhǔn)確性產(chǎn)生影響。 借助 R&S®ZVA 100 多個獨立信道和配置的跡線,可以在短時間內(nèi)完成復(fù)雜組件全面的功能測試。 不再需要耗時地加載新的儀表設(shè)置。


寬動態(tài)范圍

只需要很少的校準(zhǔn)工作量和校準(zhǔn)時間—R&S®ZV-Z5x 自動校準(zhǔn)單元


• 采用自動校準(zhǔn)單元,將校準(zhǔn)時間降低至更小

 自動檢測已經(jīng)連接的設(shè)備和端口:無需配置

 工作溫度范圍極寬,預(yù)熱時間幾乎為零


手動校準(zhǔn)

 羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò)分析儀支持多種校準(zhǔn)技術(shù)。 測試裝置的夾具、晶片、PCB、波導(dǎo)或者導(dǎo)線端頭可能需要校準(zhǔn)。 選擇可以支持適用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)技術(shù)。

• 系統(tǒng)設(shè)計有結(jié)構(gòu)清晰的對話框,顯示所有的校準(zhǔn)步驟,確保校準(zhǔn)工作正確無誤。

 校準(zhǔn)期間,錯誤的連接僅需重做相應(yīng)的校準(zhǔn)步驟,即,無需從頭開始徹底的重新校準(zhǔn)。

 對于多端口重新校準(zhǔn),更加省心省力:更換測試儀組件(例如,某個故障電纜)之后,僅需重新校準(zhǔn)相應(yīng)的通路。

 避免重新校準(zhǔn):對于后續(xù)測量信道和設(shè)置,可以使用已有的校準(zhǔn)結(jié)果。



并行測量-測量速度比原來快四倍

R&S®ZVA 的發(fā)生器設(shè)計,使得每個測試端口都可以同時作為信號源和接收機(jī)使用。 因此,可以對測試端口進(jìn)行分組。 在各個測試端口組上進(jìn)行的測量任務(wù)可以彼此實現(xiàn)同步。 因而,可以并行地測量多個 DUT 或者一個 DUT 的多個通路; 測量時間僅相當(dāng)于測量一個設(shè)備所需要的時間。 因此,同時測量兩個兩端口DUT時,速度將提高一倍;同時測量四個單端口DUT時,速度將是原先的四倍。


并行測量-儀器各種設(shè)置之間的快速切換

在同時分析多個DUT時,你再也無需從硬盤逐個載入所需的儀器設(shè)置。一旦被調(diào)用,設(shè)置將始終保存于RAM中,其中包括計算獲得的數(shù)據(jù),例如通過插值獲得的校準(zhǔn)值。 因此,各種設(shè)置之間的切換幾乎不會產(chǎn)生延誤,例如:遠(yuǎn)程控制模式下不到 10 ms 時間。 而對于傳統(tǒng)儀器來說,設(shè)置的調(diào)用則需要花費長達(dá)一秒鐘的時間。 每個設(shè)置都用一個單獨的測量窗口表示。 需要在不同窗口之間切換時,只需使用鼠標(biāo)或按動按鍵即可。 此外,這種設(shè)計還可以方便地處理并清晰地顯示大量的測量結(jié)果和跡線。


儀器各種設(shè)置之間的切換-在掃描的同時進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸

由于跡線數(shù)據(jù)可在捕獲測量數(shù)據(jù)的同時通過IEC/IEEE總線或LAN進(jìn)行傳輸,因而 R&S®ZVA 上的數(shù)據(jù)傳輸時間對于重復(fù)測量序列來說微不足道。


信道位和用戶端口——高速控制外部設(shè)備

為了進(jìn)一步縮短自動測試周期,儀器后板上提供了一個用于觸發(fā)I/O信號的特殊端口, 這些 I/O 信號可通過 R&S®ZVA 的內(nèi)部測量序列直接同步測量裝置的外部設(shè)備或 DUT 設(shè)置。諸如觸發(fā)就緒等儀表狀態(tài),可以用作直接控制外部設(shè)備的電信號。由于不需要使用遠(yuǎn)程控制序列,因而節(jié)省了執(zhí)行時間。


利用分段掃描實現(xiàn)最佳測量速度、準(zhǔn)確性和動態(tài)范圍

分段掃描功能允許將一次掃描分割成數(shù)量不受限制的許多段,每一段的測試點間距、測量帶寬和信號發(fā)生器功率等各分段掃描參數(shù)可單獨進(jìn)行定義,從而實現(xiàn)與DUT特性之間的匹配。 以此實現(xiàn)測量速度和準(zhǔn)確度的進(jìn)一步優(yōu)化。



二、直觀的用戶界面和顯示結(jié)構(gòu)


為了滿足用戶需求,羅德與施瓦茨公司的全部網(wǎng)絡(luò)分析儀的所有功能都可以采用前面板按鍵、鼠標(biāo)和鍵盤,或者同時采用兩者進(jìn)行控制。對話框直觀地顯示儀表設(shè)置和可輸入的參數(shù)。僅需少數(shù)幾個菜單,就可以完成基本的設(shè)置。 系統(tǒng)設(shè)計了其它表格和對話框,可以用于更加詳盡的高級設(shè)置。 此外,鼠標(biāo)點擊顯示界面中的參數(shù)區(qū)域時,會彈出菜單,從中可以選擇目標(biāo)參數(shù)采用該功能,可以極其方便、快速地操作 R&S®ZVA

虛擬阻抗匹配的參數(shù)化配置網(wǎng)絡(luò)

(重新)配置跡線、信道、標(biāo)度和顯示區(qū)域等

配置時域測量(TDR)功能

羅德與施瓦茨公司的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要目的是實現(xiàn)配置的方便與靈活性以及海量測量數(shù)據(jù)(即,跡線和測量信道)的處理能力。 跡線、信道、顯示和設(shè)置等的數(shù)量僅受 PC 內(nèi)存的限制(例如,可支持高達(dá) 100 個跡線,且每個跡線最多可支持 401 個數(shù)據(jù)點)。 即使是不同信道的跡線,也可以組合在一個區(qū)內(nèi),據(jù)此,可以方便地比較使用了不同參數(shù)的測量結(jié)果。 完成設(shè)置之后,所有跡線均可以重新布局、移至不同的區(qū)域,或者分配給不同的信道;更改設(shè)置時,無需一切從頭開始。

靈活的信道和跡線布局



三、創(chuàng)新式的校準(zhǔn)技術(shù)


多用途校準(zhǔn)技術(shù),可滿足多種領(lǐng)域的應(yīng)用

R&S®ZVA 不僅提供傳統(tǒng)的TOSM校準(zhǔn)方法(直通、開路、短路、匹配),而且還提供其他多種校準(zhǔn)技術(shù)。 由于 R&S®ZVA 的每個測試端口都配備了一個單獨的參考接收機(jī),因而可以使用 7-term 校準(zhǔn)技術(shù),其中包括 TRL/LRL(直通、反射、傳輸線/傳輸線、反射、傳輸線)、TOM(直通、開路、匹配)、TNA(直通、網(wǎng)絡(luò)、衰減器)和 TRM(直通、反射、匹配)。這些校準(zhǔn)技術(shù)適合測試夾具或晶片的校準(zhǔn)。 由于校準(zhǔn)直接在 DUT 參考面上進(jìn)行,因而完全消除了測試夾具產(chǎn)生的影響。

UOSM 校準(zhǔn)技術(shù)極其類似于 TOSM 技術(shù)。但是,前者允許使用未知通路(“U”)作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),即,無需知道某個通路的參數(shù)(例如,長度或衰減)。 此外,支持各種類型連接器隨意組合的適配器也可用作通路。因此,極大地方便了帶有不同類型連接器的 DUT 的校準(zhǔn)任務(wù)。



使用靈活的校準(zhǔn)套件

任何一種網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量精度很大程度地取決于例如長度、容量等所有電氣和機(jī)械參數(shù)。這些參數(shù)決定了幅值和相位響應(yīng),因而,也決定了校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)中的 S 參數(shù)。 當(dāng)然,必須盡可能準(zhǔn)確地獲得這些參數(shù)。 為了定義校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),必要擁有考慮了可能出現(xiàn)的全部非理想條件的等效電路。 羅德與施瓦茨的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀均配設(shè)有清晰的等效電路圖和建模功能,可以進(jìn)行詳盡的參數(shù)設(shè)置。

通過電氣延時、任意阻抗和損耗定義匹配
采用等效電路圖定義匹配,其中,考慮了寄生電感和寄生電容效應(yīng)

除了手動地定義校準(zhǔn)套件之外,也可以通過文件方便地安裝校準(zhǔn)套件甚至可以采用其它提供商的 ASCII 碼文件進(jìn)行安裝。 可以切換至其它提供商所使用的測量單元。



自動校準(zhǔn)――快速、無錯誤、高精度

盡管 TOSMTRM TRL 等手動校準(zhǔn)技術(shù)可用于多端口測量,但是比較耗時,出錯率高,并且校準(zhǔn)裝置磨損嚴(yán)重。 羅德與施瓦茨提供同軸單端口和多端口校準(zhǔn)所需的自動校準(zhǔn)單元,該單元在連接后可立即進(jìn)入工作狀態(tài),不到30秒時間可完成201個測試點的四端口校準(zhǔn)。


 

四、通信


系統(tǒng)設(shè)計有各種后面板連接器,用于支持:

 通過遠(yuǎn)程控制軟件控制儀表

 采用 R&S®NRP探頭進(jìn)行直流電壓和功率測量

同步功能(例如,參考頻率、外部觸發(fā)器、掃描和觸發(fā)狀態(tài)指示等,用以直接、快速地與外部設(shè)備進(jìn)行交互)。

掃描時間測量:USER CONTROL 端口的針腳 4 指示測量時間,與菜單“Trigger settings(觸發(fā)器設(shè)置)中的設(shè)置相對應(yīng)(掃描、掃描段、測試點,或者部分測量)。 借助示波器,可以方便地監(jiān)控每一種情況下實際所需要的執(zhí)行時間。






 


 


 


 
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